近日威尼斯人老闆，杭州广立微电子股份有限公司追究推出了新一代通用型高性能半导体参数测试系统T4000。该系列产物是对公司现存并行perpin测试设立T4100S的要紧补充，巧合掩饰不同用户的使用需求。T4000的上市进一步拓展了公司的产物线，标识着广立微在晶圆级电性测试设立边界得到了又一要紧冲破。

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　　该系统带有丰富的WAT、WLR测试算法库，适配各种主流WAT探针卡，相沿国外上各主要型号的探针台，巧合高效完成通盘成例WAT参数、成例WLR 参数以及addressable等先进测试芯片的测试，可平庸利用于WAT, WLR及SPICE等边界。

　　比拟商场上同类设立，T4000系列测试每片晶圆所需的时刻大幅度裁减，援救幅度达20%至200%，具有很高的性价比，更适应对资本较为敏锐的8英寸及以下产线。因其功能全面、知道性高、兼容性好，不仅不错用于新的产线，还可用于替代原有晶圆厂老旧的测试设立。

　　T4000系列主要上风

　　四肢广立微自主研发的通用型半导体参数测试系统，T4000系列继承了新一代超低走电可膨胀矩阵开关，具有精度高、速率快、纯真设置的特色，最高相沿100 个测量引脚，完了多个module并行测试。由于其结构策划先进，具备完善的自检和自校准功能，因此系统的知道性和一致性均得到显赫援救。T4000系列凭证不同需乞降使用场景，提供了三个主要型号，便捷客户遴荐。

　　T4000系列型号设置表

　　自2010年运转插足研发以来，广立微一直致力于劝诱和提供手艺超越、具有国外竞争力的半导体参数测试系统，现已发展成为国内独一巧合向集成电路量产线供应WAT测试设立的企业。进程20多条客户产线上百台设立的恒久考证，广立微的WAT测试设立具有质料可靠、功能皆全、一致性强、测量精度高、测试后果快、交货周期短、劳动保险好等特色。这次广立微推出T4000系列通用型高性能半导体参数测试系统，必将为公司的业务拓展注入新的动能。

　　改日威尼斯人老闆，广立微将不绝打造更多具有国外竞争力的手艺立异与相反化产物，为客户和商场提供性能优胜、分娩后果高和性价比高的测试设立处治决议，为客户创造更大价值。